半导体良率分析工具市场规模、份额和行业分析，按类型（晶圆检测工具、工艺控制工具、数据分析工具等）、按部署（本地和云）、按应用（缺陷数据分析、晶圆处置、工艺和工具偏移识别、空间特征分析、良率分析等）、按最终用户（集成器件制造商 (IDM)、半导体无晶圆厂公司、半导体测试设备制造商、和半导体外包组装和测试工厂 (OSAT))，以及 2025 – 2032 年区域预测